??? X射線熒光 (XRF)光譜是一種非破壞的分析技術，用于定性和定量分析固體，粉末和液體樣品里的元素。

??? XRF光譜儀測量受到X射線輻射的樣品發出的每一個波長的信號。

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??? 波長色散(WDXRF) 是通過衍射技術，利用分光晶體來實現分光。根據Bragg定律晶體的晶間距選擇出正確的波長。

??? 能量色散XRF譜儀(EDXRF)不需要晶體。

??? WDXRF系統的應用靈活廣泛，對每一個元素的光學測量條件程序化，對輕元素的測量性能表現優異，靈敏度高，檢出限低。

??? EDXRF系統包括專門的電子和軟件模塊，所有的輻射都被探測器很好的分析。雖然該系統精度相對較低,但為應用提供了一種低成本的選擇。