??? X射線熒光光譜是根據(jù)Moseley定律，任何特征輻射(例如 K, L, M等)的波長與元素原子序數(shù)的平方成反比。這些波長已經(jīng)可以從資料里查到。通過測量特征X射線輻射的波長，可以推斷出來自于哪一個(gè)元素。

??? 在WDXRF譜儀，來自樣品表面的多色光束到達(dá)晶體后，根據(jù)Bragg定律,分光晶體將其轉(zhuǎn)換成單色光束。根據(jù)晶體參數(shù)和衍射角計(jì)算測量譜線的波長。因此有必要選擇適當(dāng)?shù)木w來覆蓋所要分析的波長。

??? 同時(shí)式WDXRF譜儀，對應(yīng)某元素在固定的角度放置有一個(gè)或多個(gè)探測器，因此同時(shí)測量不同的元素。